Автоматизированная система измерения качества лазерного луча Gentec-EO серии BEAMAGE-M2
Автоматизированная система измерения качества лазерного луча, 350 нм - 1100 нм, 4.2 мп
Автоматизированная система измерения качества лазерного луча, 350 нм - 1100 нм, 4.2 мп
Профилометр лазерного луча, CMOS-датчик высокого разрешения, измерения в соответствии с ISO
CMOS матрица
Спектральный диапазон: 190 - 1700 нм
Максимальная мощность: до 1 Вт
CMOS матрица
Спектральный диапазон: 190 - 1100 нм
Максимальная мощность: до 50 Вт
CMOS матрица
Спектральный диапазон: 1030 - 1070 нм
Максимальная мощность: до 500 Вт
CMOS матрица
Спектральный диапазон: 248 - 266 нм
Максимальная мощность: до 1 Вт
Обратная связь
Отправка запроса
Спасибо!
Мы свяжемся с вами